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艾博納全自動二維樣品轉移臺由金相明暗場顯微系統、六軸轉移臺、多軸運動控制器、以及真空吸附部件、0.01度的超高精度加熱臺等部分組成。樣品臺可高達0.001度精度的大角度或小角度旋轉,是研究異質結特性、空間反演對稱性破缺以及二維材料的不同堆疊方式影響等的有力工具。在搖桿與電腦軟件的控制下,可以操控轉移臺100nm的高精度細微操作,精確控制樣品轉移。
此外,艾博納還為科研人員提供大量快速更換的配置選項,包括高低溫電動探針臺、光纖端面材料轉移模塊、樣品臺高溫以及極低溫模塊、快速升降溫模塊等,同時也支持在手套箱內使用環境進行安裝使用。如需采用奧巴斯或者尼康顯微鏡可以直接支持定制,我們解決此配套所有CCD相機軟件以及顯微鏡硬件銜接。任何和轉移相關的其他定制需求我們都可以盡全力完成并服務好。
使用方法
1. 設備安裝與初始化
安裝底座:將轉移臺固定在防震平臺上,確保水平(使用水平儀校準);
連接控制模塊:通過USB/RS-232接口連接電機驅動器與上位機;
電源啟動:接通24V直流電源,觀察指示燈狀態(綠燈常亮表示就緒);
回零操作:在控制軟件中執行“Home"命令,使平臺自動復位至機械原點。
2. 軟件操作流程
載入控制軟件:打開專用控制程序(如Thorlabs APT或自行開發的LabVIEW界面);
坐標設定:輸入目標位置(分辨率通常為0.1μm~1μm),支持絕對/相對移動模式;
運動控制:點擊“Move"啟動平移,實時監控位置反饋信號;
多位置預設:保存常用坐標點(如A1、B2等),支持一鍵跳轉。
3. 安全注意事項
負載限制:最大承載重量需≤5kg(超載可能損壞絲杠);
行程保護:設置軟件限位(如X軸±50mm),避免機械碰撞;
緊急停止:熟悉紅色急停按鈕位置,突發異常時立即切斷電源。
艾博納全自動二維樣品轉移臺的產品特點:
1.100-200納米高精度定位
2.自動化樣品搬運和定位
3.可通過操作界面直接設定樣品的目標位置、移動路徑和速度等參數
4.與各種實驗設備和分析儀器兼容
5.結構設計優化,減少了由于機械振動或熱膨脹引起的誤差,保證了長期運行的穩定性和可靠性
6.外殼設計,避免在自動移動過程中對樣品或設備造成損害
7.適用于各種二維材料,包括單層和多層結構
8.自動記錄轉移位置和參數,方便后續分析和報告生成
產品部件:
1.移動平臺(X-Y-Z軸平臺)
精密線性導軌和滑塊:確保平臺沿X和Y軸的平滑、精確移動。
步進電機:驅動移動平臺,控制位置和速度。
電動升降臺:確保平臺沿Z軸的穩定精確升降
2.控制系統
控制器:核心處理單元,用于接收指令、處理數據并控制移動平臺的動作。
軟件界面:我們配備控制軟件、設定移動路徑、速度和位置,以及其他操作參數。
3.傳感器
位置傳感器:用于精確測量和反饋平臺位置。
速度傳感器:監測和調整移動速度。
4.樣品固定裝置
真空吸盤和夾具:用于固定樣品,確保在移動過程中的穩定性。
5.結構組件
光學平臺:支撐和固定移動平臺及其他組件,確保整體結構的穩定性和耐用性。
6.安全裝置
外殼:保護操作人員免受移動部件傷害,防止塵埃和雜物進入設備內部。
7.通信接口
數據端口(USB):用于與計算機或其他控制系統的數據交換。
8.傳動系統
絲桿和皮帶傳動:將電機的旋轉運動轉換為平臺的直線運動。
10.附件和可選組件
顯微鏡:用于實時監控樣品的位置和狀態。
定制夾具:根據特定樣品的需求定制的夾具或支架。
本圖片來自艾博納微納米科技(江蘇)有限責任公司提供的 全自動二維樣品轉移臺,型號為 全自動二維樣品轉移臺的艾博納光學儀器及設備,產地為中國大陸江蘇,屬于品牌,參考價格為面議,公司還可為用戶供應高品質的艾博納光鑷系統、艾博納Keithley 2636B 雙通道源表等儀器。
操作教程(以顯微鏡樣品掃描為例)
步驟1:樣品裝載
打開樣品夾具,將載玻片輕放入卡槽,旋緊固定螺絲(扭矩≤0.5N·m);
在軟件中設置載玻片尺寸(如25mm×75mm),劃定掃描區域。
步驟2:自動掃描程序設置
網格劃分:設定掃描步長(如10μm),系統自動生成X-Y網格點陣;
時序控制:配置每點停留時間(如200ms),同步觸發相機拍攝;
數據保存:關聯圖像存儲路徑,文件名自動按坐標命名(如X100Y203.jpg)。
步驟3:執行與監控
啟動掃描,觀察平臺運動平穩性(異常振動需立即暫停);
實時查看圖像拼接預覽,確保無漏拍或重疊。
維護要點
1. 日常維護
清潔導軌:每周用無塵布蘸取無水乙醇擦拭直線導軌,去除灰塵與油污;
潤滑保養:每3個月涂抹微量鋰基潤滑脂于絲杠和軸承(用量≤0.1ml);
電氣檢查:每月檢查線纜接口是否松動,避免信號中斷。
2. 定期校準
定位精度校準:使用激光干涉儀或標準光柵尺,每半年進行一次精度驗證(誤差>1μm需重新補償);
重復性測試:在相同坐標點往返移動10次,統計標準差應<±0.3μm。
應用場景示例
半導體檢測:自動定位晶圓缺陷坐標,配合探針臺進行電性測試;
活細胞成像:長時間追蹤細胞運動軌跡,Z軸疊加實現3D重構;
材料劃痕測試:按預設路徑施加機械載荷,同步記錄力學響應數據。